Нажимая на кнопку «Купить», вы даете согласие на обработку своих персональных данных
PANASIAN MACRAME OVERSIZE WAISCOT
16080,00
₽
Объемный жилет из плащевой ткани. Два кармана спереди. Жилет украшает изделие в технике плетения макраме. Идеально сочетаются со всей одеждой в линейке RICE.
Рост модели 165 см
Размер на модели S
Состав: 60% хлопок 40% нейлон
Утеплитель: слайтекс (1 слой 100г)
Цвет: серый
Размер: S, M, L, XL
Унисекс
Сделано в России
Рост модели 165 см
Размер на модели S
Состав: 60% хлопок 40% нейлон
Утеплитель: слайтекс (1 слой 100г)
Цвет: серый
Размер: S, M, L, XL
Унисекс
Сделано в России
colors-uid: 295188817172, 227274135262
color-img: https://optim.tildacdn.com/stor6562-3661-4061-a631-333733306238/-/format/webp/60682039.jpg.webp
Машинная или ручная стирка, температура воды – 30-40°С градусов.
Разрешена машинная и ручная стирка, обычное полоскание и отжим.
Чистка только жидкими моющими средствами.
Отбеливание, удаление пятен растворителями и сухая чистка запрещено.
Химчистка недопустима.
Сушить в расправленном виде в помещениях с хорошей циркуляцией воздуха.
Избегать попадания прямых солнечных лучей на поверхность ткани.
Сушить вдали от батареи центрального отопления и других источников сильного тепла.
Гладить одежду утюгом не стоит: в этом нет необходимости, а высокие температуры утюга могут повредить защитные покрытия.
Разрешена машинная и ручная стирка, обычное полоскание и отжим.
Чистка только жидкими моющими средствами.
Отбеливание, удаление пятен растворителями и сухая чистка запрещено.
Химчистка недопустима.
Сушить в расправленном виде в помещениях с хорошей циркуляцией воздуха.
Избегать попадания прямых солнечных лучей на поверхность ткани.
Сушить вдали от батареи центрального отопления и других источников сильного тепла.
Гладить одежду утюгом не стоит: в этом нет необходимости, а высокие температуры утюга могут повредить защитные покрытия.
ДОПОЛНИТЕ ОБРАЗ
Мы используем cookie. Во время посещения нашего сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее